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IDT7034S/L
High-Speed 4K x 18 Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
Data Retention Characteristics Over All Temperature Ranges
(L Version Only) (V CC = 0.2V, V HC = V CC - 0.2V) (4)
Symbol
V DR
Parameter
V CC for Data Retention
V CC = 2V
Test Condition
Min.
2.0
Typ. (1)
___
Max.
___
Unit
V
I CCDR
Data Retention Current
CE > V HC
IND.
___
100
4000
μA
V IN > V HC or < V LC
COM'L.
___
100
1500
t CDR
t R (3)
(3)
Chip Deselect to Data Retention Time
Operation Recovery Time
SEM > V HC
0
t RC (2)
___
___
___
___
ns
ns
NOTES:
1. T A = +25°C, V CC = 2V, not production tested.
2. t RC = Read Cycle Time
3. This parameter is guaranteed by characterization, but is not production tested.
4. At Vcc < 2.0V input leakages are undefined.
Data Retention Waveform
DATA RETENTION MODE
4089 tbl 10
V CC
CE
4.5V
t CDR
V IH
V DR > 2V
V DR
4.5V
t R
V IH
4089 drw 03
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
GND to 3.0V
5ns Max.
1.5V
DATA OUT
5V
893 ?
5V
893 ?
Output Reference Levels
Output Load
1.5V
Figures 1 and 2
BUSY
INT
347 ?
30pF
DATA OUT
347 ?
5pF*
4089 tbl 11
4 089 drw 04
Figure 1. AC Output Test Load
Figure 2. Output Test Load
(for t LZ , t HZ , t WZ , t OW )
*including scope and jig.
6
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